EMI測(ce)試

EM5030 是一款主要用于(yu)查找幹擾源，判定(dìng)幹擾産生原因♉的(de)高性🈲價比近場探(tan)頭。可用來檢測器(qi)件表面的磁場方(fang)‼️向以及強度；檢🈲測(ce)磁場耦合的通道(dào)，從而調整連接器(qì)位置；檢♌測模塊附(fù)近的磁場環境。爲(wèi)了降低幹擾，尋找(zhao)到真正的幹擾源(yuan)或者是其傳播的(de)途徑📱是非常有必(bì)要的，通過近場探(tan)頭測量可以很方(fang)便地實現定位功(gōng)能。通過配合本公(gong)司的EM5020前置放大器(qi)可以提高‼️系統測(ce)試靈敏度。大大的(de)減少産品的研發(fa)😍周期，減少往返實(shí)驗室的時間和金(jīn)錢☎️，減少不必要的(de)錯誤測試。 EM5030近場探(tan)🚶頭就是解決問題(ti)的最😄好利⛷️器！

型号	說明	特性
EM5030－1	磁場近場探(tan)頭，可檢查10cm範圍内(nei)的磁場。 主要用于(yú)機箱洩漏測試。 頻(pín)率範圍：30MHz to 3 GHz 分辨率：25mm左(zuo)右
EM5030－2	磁場近場探頭，可(kě)檢查3cm範圍内的磁(ci)場。 頻率範圍：30MHz to 3 GHz 分辨(bian)率：10mm左右
EM5030－3	磁場近場探(tàn)頭，主要用于線纜(lan)電磁洩漏測試。 頻(pin)率範圍：30MHz to 2 GHz 分辨率：5mm左(zuo)右
EM5030－4	磁場近場探頭，可(kě)檢測垂直方向發(fa)射的電磁場 。 主要(yao)用于PCB布線産生的(de)電磁場測試。 頻率(lü)範圍：30MHz to 3 GHz 分辨率：2mm左右(you)